Укороченная рубашка из натурального льна, цвета шалфей. Короткая рубашка оверсайз является трендм сезона и стильно дополнит образы для отдыха с шортами и короткими топами, легинсами, джинсами, брюками и юбками. Рубашку можно носить как блузку, а можно носить как второй слой поверх футболки или топа. Сделано в России на собственном производстве.
Бренд: | Ypsilon |
---|---|
UPC: | 2208130220 |
MPN: | 4.40E+16 |
Артикул продавца: | 4.40E+16 |
Производитель: | ИП «Галкин Андрей Дмитриевич» |
Страна: | Russian Federation |
Доступность: | в наличии |
Минимальный заказ: | 10 |
Вес с упаковкой: | 0.20 kg |
Загрузка на Enhof Marketplace : | Sep 19, 2022 |
Возврат и замена товара производится согласно договору поставки. Заранее обсуждайте с продавцом гарантию и случай если товар окажется ненадлежащего качества.
Нет отзывов
Мы создаем функциональные базовые вещи из натуральных тканей для тех, кто ценит качество и стиль. Продуманная база позволяет стереть границу между повседневной одеждой и одеждой для отдыха. Ypsilon — городская униформа, в которой чувствуете себя комфортно и уверенно.
Мы шьем вещи из высококачественного льна, сертифицированного по европейским стандартам экологической безопасности. Лён — это наша большая любовь. Этот удивительный природный материал согревает в холод и охлаждает в жару. Лён — очень скульптурная и пластичная ткань: со временем он меняет форму, адаптируясь под ваше тело. А еще дарит приятные ощущения и подойдет даже чувствительной коже.
Возврат и замена товара производится согласно договору поставки. Заранее обсуждайте с продавцом гарантию и случай если товар окажется ненадлежащего качества.
Нет отзывов
Вы всего в одном шаге! Пожалуйста, войдите, чтобы начать разговор. Авторизоваться
Мы используем файлы «Cookie» и метрические системы для сбора и анализа информации о производительности и использовании сайта, а также для улучшения и индивидуальной настройки предоставления информации. Нажимая кнопку «Принять» или продолжая пользоваться сайтом, вы соглашаетесь на обработку файлов «Cookie» и данных метрических систем. Подробнее